标题：元件表面产生的热分配的技术-红外线温度测量技术
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2016-6-24 15:05:53
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正文:
元件表面产生的热分配的技术-红外线温度测量技术
红外线温度测量
红外线状态监测是能够揭露缺陷元件表面产生的热分配的技术。由
于元件产生的热量和热传递特性的改变表现出的缺陷的变化使表面的热
特征发生改变。因此红外线温度测量能够通过遥控收集热信息监测整个
功率系统中的电子元件的状态。
在正常的操作状态下，每个元件的特性可通过某一可接受的电阻值
表示。当元件受热时将表现出电阻值的偏移。元件的过热可以由任何失
效的机理所引起，，如丧失接触力、应力松弛，蠕变，腐蚀等。元件的
持续恶化造成温度的增加以至于达到材料的熔点，从而导致完全失效。
红外线的温度测量目前广泛地被电力公司和工业部门应用。这不仅
仅是因为这种非接触、非破坏性的方法得到的效益，也是其表现出的精
确数据的获得、简单的操作和高效的性能的结果。
然而，应该指出的是，尽管红外线系统的广泛使用受只能测量曝露
表面的温度这个事实所限制，但是它们在测量缓慢发展的缺陷的时候仍
然是非常有效的。这使使用者能够跟踪失效的过程和了解失效的影响。
因为这些理由，IR温度图像测量已经成为电气设施和广泛的工业领域的
预测和预防维护程序的基本部分。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科