标题：显微镜测量有机质发射荧光在可见光范围内400-700nm
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-5-7 12:19:49
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正文:
荧光光谱测量
测量方法
测量有机质发射荧光在可见光范围内（400-700nm）光谱
相对强度分布的方法，称为荧光光谱测量，由于光谱测量
能揭示有机质荧光在整个可见光范围内的分布和变化特征
，具有灵敏度高和分析参数多的优点，并可直接地反映物
质的内部组成和结构，因此，在有机质荧光性研究中，光
谱测量是最常使用的方法。
光谱测量方法是在工作基础上发展起来的，荧光光谱测
量的影响因素较多，到目前为止尚末能像荧光强度那样制
定一套相对规范的国际标准。
对荧光光谱的测量方法做了准确详细地描述，之后，各
国煤岩学家大都沿用了这一套方法，随着研究的深入，人
们对测量方法做了部分修改和调整，但其基本要点是一致
的。
1.用反射光荧光显微技术，激发光源为100W高压汞灯。
2.用长波紫外光（大约365nm）作为激发光，即使用UGL
+BG38激发滤光片组合。
3.垂直照明系统使用双光束分光器（临界值为420-
430nm).
4.阻挡滤光片透光下限为430nm。
到目前为止，国内外发表的文章中的光谱数据，都是在
上述条件下测得的。这一方法优点在于：
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科