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正文:
纳米氧化铈特性-第一部分:粒径量测
纳米材料特性分析的主要范畴进行了以下回顾。
重点在于使用多种分析技术进行纳米与微米粒径之量测,例如:穿透式电子显微镜、原子力显微镜、动态光散射仪、X光绕射仪以及比表面积分析仪,
并将上述数种方法应用在商用纳米级氧化铈及微米级氧化铈之量测。
主要着重于非粒径相关特性之量测与分析,并在结果中探讨环境样品与前处理方法间的关联性,以及各类仪器的分析原理、限制及优势。为準确获得样品中之粒径特征,
所使用的多重分析方法是结合不同种类的显微镜、光谱分析、分离方式及其它技术,
有助于提供生态毒性及环境研究更完善的资讯。纳米氧化铈颗粒粒径(~15 nm)藉由原子力显微镜、穿透式电子显微镜、
X光绕射以及比表面积分析获得良好的一致性,推测其形状是半球形单晶体,对于微米级颗粒而言,
所有的
测量结果皆呈现微米粒径皆大于100 nm,而不同仪器其粒径量测之差异性,可能为多重分散效应所造成。
研究发现经由超高速离心前处理之低浓度样品,以原子力显微镜及穿透式电子显微镜分析可获得相当一致的数据,反观动态光散射仪则无法进行有效分析。
出自http://www.bjsgyq.com/
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